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高低溫溼熱測試箱裝置滿足的標準說明

釋出日期••☁·:2015-12-08      點選••☁·:2182
   高低溫溼熱測試箱適用於航空航天產品│☁↟、資訊電子儀器儀表│☁↟、材料│☁↟、電工│☁↟、電子產品│☁↟、各種電子元氣件在高低溫或溼熱環境下│☁↟、檢驗其各項效能指標✘✘·。
  
  高低溫溼熱測試箱箱體結構
  
  高低溫溼熱測試箱箱體採用數控機床加工成型·╃│,造型美觀大方·╃│,並採用無反作用把手·╃│,操作簡便✘✘·。
  
  箱體內膽採用進口不鏽鋼(SUS304)鏡面板·╃│,箱體外膽採用A3鋼板噴塑·╃│,增加了外觀質感和潔淨度✘✘·。
  
  補水箱置於控制箱體右下部·╃│,並有缺水自動保護·╃│,更便利操作者補充水源✘✘·。
  
  大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮·╃│,且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃·╃│,隨時清晰的觀測箱內狀況✘✘·。
  
  加溼系統管路與控制線路板分開·╃│,可避免因加溼管路漏水發生故障·╃│,提高安全性✘✘·。
  
  水路系統管路電路系統則採用門式開啟·╃│,方便維護和檢修✘✘·。
  
  門與箱體之間採用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區的密閉✘✘·。
  
  高低溫溼熱測試箱箱體左側配直徑50mm或100mm的測試孔·╃│,可供外接測試電源線或訊號線使用✘✘·。(孔徑或孔數須增加定貨時說明)✘✘·。
  
  高低溫溼熱測試箱底部採用高品質可固定式PU活動輪✘✘·。高低溫溼熱測試箱裝置滿足以下標準
  
  GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件
  
  GB/T10586-2006溼熱試驗箱技術條件
  
  GB/T2423.1-2008電工電子產品環境試驗第2部分••☁·:試驗方法試驗A••☁·:低溫
  
  GB/T2423.2-2008電工電子產品環境試驗第2部分••☁·:試驗方法試驗B••☁·:高溫
  
  GB/T2423.3-2006電工電子產品環境試驗第2部分••☁·:試驗方法試驗Cab••☁·:恆定溼熱試驗
  
  GB/T2423.4-2008電工電子產品環境試驗第2部分••☁·:試驗方法試驗Db••☁·:交變溼熱(12h+12h迴圈)
  
  GB/T5170.1-2008電工電子產品環境試驗裝置檢驗方法總則
  
  GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法第3部分••☁·:高溫試驗
  
  GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法第4部分••☁·:低溫試驗
  
  GJB150.9A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法第9部分••☁·:溼熱試驗
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