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雙85測試的目的

釋出日期◕·:2017-04-07      點選◕·:1268

                                                    雙85測試的目的
由於PCB基材的絕緣層是由樹脂與玻璃布所構成₪✘,當在高電壓狀態下₪✘,通孔與通孔₪✘·◕、線路與線路₪✘·◕、線路與通孔間形成一個電場₪✘,而PCB溼製程很多₪✘,水分中或板面清潔不良殘留的電解質可能經由鑽孔產生的微裂縫順著玻璃纖的方向遷移產生短路₪✘,造成絕緣失效₪✘,這種現象稱為CAF陽極性玻纖絲的漏電現象☁↟₪。CAF測試透過監控測試單元的電阻₪✘,當CAF發生時₪✘,絕緣層的絕緣效能下降₪✘,電阻也隨之下降₪✘,由此可判斷CAF的失效₪✘,顧可透過寧波奉化精控環境試驗裝置有限公司的雙85試驗箱測得☁↟₪。電解離子的遷移是需要條件的☁↟₪。高溫高溼加偏壓剛好提供了離子加速遷移的條件 ☁↟₪。
 

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